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植物冠層分析儀的原理介紹

更新時(shí)間:2019-04-04      點(diǎn)擊次數:1752
植物冠層分析儀可廣泛應用于農業(yè)生產(chǎn)和農業(yè)科研,為進(jìn)行冠層光能資源調查,測量植物冠層中光線(xiàn)的攔截,研究作物的生長(cháng)發(fā)育、產(chǎn)量品質(zhì)與光能利用間的關(guān)系??蓽y量葉面積指數、葉片平均傾角、散射輻射透光率、不同太陽(yáng)高度角下的直射輻射透過(guò)率、不同太陽(yáng)高度下的消光系數、葉面積密度的方位分布、冠層內外的光合有效輻射等。廣泛應用于作物、植物群體冠層受光狀況的測量分析及農業(yè)科研工作。

植物冠層分析儀工作原理:采用冠層孔隙率與冠層結構相關(guān)的原理。它是根據光線(xiàn)穿過(guò)介質(zhì)減弱的比爾定律,在對植物冠層定義了一系列假設前提的條件下,采用半理論半經(jīng)驗的公式,通過(guò)冠層孔隙的測定,計算出冠層結構參數。

LAI-2200C植物冠層分析儀利用“魚(yú)眼”光學(xué)傳感器(垂直視野范圍148°,水平視野范圍360°)測量樹(shù)冠上、下5個(gè)角度的透射光線(xiàn),利用植被樹(shù)冠的輻射轉移模型計算葉面積指數、平均葉傾角、空隙比、聚集度指數等樹(shù)冠結構參數。

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